Porovnávacia analýza výhod a nevýhod mikroskopie atómovej sily a rastrovacej elektrónovej mikroskopie
Mikroskopia atómovej sily je skenovací sondový mikroskop vyvinutý zo základného princípu skenovacej tunelovej mikroskopie. Mikroskopia atómovej sily môže skúmať veľa vzoriek a poskytnúť údaje pre povrchový výskum a riadenie výroby alebo vývoj procesov, ktoré konvenčné nástroje na skenovanie drsnosti povrchu a elektrónové mikroskopy nedokážu poskytnúť. Aké sú teda výhody a nevýhody týchto dvoch? Pozrime sa na nasledujúce:
1. Výhody:
Mikroskopia atómovej sily má oproti skenovacej elektrónovej mikroskopii mnoho výhod. Na rozdiel od elektrónových mikroskopov, ktoré môžu poskytovať iba dvojrozmerné obrázky, mikroskopy atómovej sily poskytujú skutočné trojrozmerné povrchové mapy. AFM zároveň nevyžaduje žiadnu špeciálnu úpravu vzorky, ako je pomedenie alebo uhlík, čo môže spôsobiť nezvratné poškodenie vzorky. Po tretie, elektrónové mikroskopy musia pracovať v podmienkach vysokého vákua a mikroskopy s atómovou silou môžu dobre fungovať pri normálnom tlaku a dokonca aj v kvapalnom prostredí. To môže byť použité na štúdium biologických makromolekúl a dokonca aj živých biologických tkanív.
2. Nevýhody:
V porovnaní s rastrovacím elektrónovým mikroskopom (SEM) je nevýhodou mikroskopu s atómovou silou to, že zobrazovací rozsah je príliš malý, rýchlosť je príliš nízka a je príliš ovplyvnený sondou. Mikroskopia atómovej sily je nový typ prístroja s vysokým rozlíšením na atómovej úrovni, ktorý bol vynájdený po skenovacej tunelovej mikroskopii. Môže skúmať fyzikálne vlastnosti rôznych materiálov a vzoriek v nanometrových oblastiach, vrátane morfológie, v atmosférickom a kvapalnom prostredí, alebo priamo vykonávať merania nanometrov. Manipulácia; má široké uplatnenie v oblasti polovodičov, nanofunkčných materiálov, biológie, chemického priemyslu, potravinárskeho, medicínskeho výskumu a výskumných experimentov rôznych nano disciplín vo vedecko-výskumných ústavoch a stal sa základným nástrojom pre nanovedecký výskum . V porovnaní so skenovacou tunelovou mikroskopiou má mikroskopia atómovej sily širšiu použiteľnosť, pretože dokáže pozorovať nevodivé vzorky. Mikroskop skenovacej sily, ktorý je široko používaný vo vedeckom výskume a priemysle, je založený na mikroskope atómovej sily.
