Aplikácia infračerveného mikroskopu v malých zariadeniach v elektronickom priemysle
S vývojom nanotechnológie sa v oblasti polovodičových technológií čoraz viac uplatňuje jeho miniaturizačný prístup zhora nadol. Zvyčajne sme volali technológiu IC „Microelectronics“, pretože veľkosť tranzistorov je v rozsahu mikrometrov ({1}} metre). Technológia Semiconductor sa však vyvíja veľmi rýchlo, postupuje o generáciu každé dva roky a veľkosť sa zmenšuje na polovicu svojej pôvodnej veľkosti, čo je slávny Mooreov zákon. Asi pred 15 rokmi začali polovodiče vstúpiť do éry subkrokálneho mikronu, ktorý je menší ako mikrometre, po ktorom nasleduje hlbšia éra subkronu, oveľa menšia ako mikrometre. O 2 0 01 sa veľkosť tranzistorov dokonca znížila na menej ako 0,1 mikrometrov, čo je menej ako 100 nanometrov. Preto v ére nanoelektroniky bude väčšina budúcich ICS vyrobená pomocou nanotechnológie.
Technické požiadavky:
V súčasnosti je hlavnou formou zlyhania elektronického zariadenia tepelné zlyhanie. Podľa štatistík je 55% zlyhaní elektronických zariadení spôsobených teplotou presahujúcou špecifikovanú hodnotu a rýchlosť zlyhania elektronických zariadení sa exponenciálne zvyšuje so zvyšujúcou sa teplotou. Všeobecne povedané, prevádzková spoľahlivosť elektronických komponentov je vysoko citlivá na teplotu, s 5% znížením spoľahlivosti pri každom zvýšení teploty zariadenia medzi 70-80 stupňami Celzia. Preto je potrebné rýchlo a spoľahlivo zistiť teplotu zariadenia. V dôsledku čoraz menšej veľkosti polovodičových zariadení boli vyššie požiadavky na rozlíšenie teploty a priestorové rozlíšenie detekčných zariadení.
