Aplikácie a charakteristiky transmisnej elektrónovej mikroskopie
Transmisná elektrónová mikroskopia (TEM) je mikroskop s vysokým rozlíšením používaný na pozorovanie vnútornej štruktúry vzoriek. Využíva elektrónový lúč na prienik do vzorky a vytvorenie premietaného obrazu, ktorý sa potom interpretuje a analyzuje, aby sa odhalila mikroštruktúra vzorky.
1. Elektronický zdroj
TEM používa elektrónový lúč namiesto lúča svetla. Transmisný elektrónový mikroskop série Talos vybavený laboratóriom Jifeng Electronic MA Laboratory používa elektrónové delo s ultra vysokým jasom, zatiaľ čo transmisný elektrónový mikroskop so sférickou aberáciou HF5000 používa elektrónové delo so studeným poľom.
2. Vákuový systém
Aby sa predišlo interakcii medzi elektrónovým lúčom a plynom pred prechodom cez vzorku, celý mikroskop musí byť udržiavaný vo vysokom vákuu.
3. Vzorka prenosu
Vzorka musí byť priehľadná, čo znamená, že elektrónový lúč ňou môže preniknúť, interagovať s ňou a vytvoriť premietaný obraz. Typicky sa hrúbka vzorky pohybuje od nanometrov po submikrón. Jifeng Electronics je vybavený desiatkami FIB Helios série 5 na prípravu vysokokvalitných ultratenkých vzoriek TEM.
4. Elektronický prenosový systém
Elektrónový lúč je zaostrený prostredníctvom prenosového systému. Tieto šošovky sú podobné šošovkám v optických mikroskopoch, ale kvôli oveľa kratšej vlnovej dĺžke elektrónov v porovnaní so svetelnými vlnami sú konštrukčné a výrobné požiadavky na šošovky vyššie.
5. Obrazová rovina
Po prechode cez vzorku vstúpi elektrónový lúč do obrazovej roviny. V tejto rovine sa informácia elektrónového lúča prevedie na obraz a zachytí detektorom.
6. Detektor
Najbežnejšími detektormi sú fluorescenčné obrazovky, CCD (charge coupled device) kamery alebo CMOS (complementary metal oxide semiconductor device) kamery. Keď elektrónový lúč interaguje s fluorescenčnou clonou v rovine obrazu, generuje sa viditeľné svetlo, ktoré vytvára premietaný obraz vzorky, ktorý sa bežne používa na lokalizáciu vzorky. Vzhľadom na potrebu použitia fluorescenčných obrazoviek v prostredí tmavej miestnosti, čo nie je užívateľsky prívetivé pre obsluhu, súčasní výrobcovia nainštalujú kameru nad bočnú stranu žiarivkovej obrazovky, čo operátorom TEM umožní pozorovať displej v jasnom svetle. prostredie na vyhľadávanie vzoriek, naklápanie hriadeľa pásu a ďalšie operácie. Toto nenápadné zlepšenie je základom pre dosiahnutie oddelenia človeka od stroja.
7. Tvorba obrazu
Keď elektrónový lúč prechádza vzorkou, interaguje s atómami a kryštálovou štruktúrou vo vzorke, rozptyľuje sa a absorbuje. Na základe týchto interakcií intenzita elektrónového lúča vytvorí obraz na obrazovej rovine. Všetky tieto obrázky sú dvojrozmerné projekčné obrázky, ale vnútorná štruktúra vzorky je často trojrozmerná, takže pri analýze podrobných informácií vo vzorke by sa tomu mala venovať osobitná pozornosť.
8. Analýza a interpretácia
Pozorovaním a analýzou obrázkov môžu výskumníci pochopiť kryštálovú štruktúru vzorky, parametre mriežky, kryštalografický defekt, usporiadanie atómov a ďalšie informácie o mikroštruktúre. Ji Feng má profesionálny tím analýzy materiálov, ktorý môže zákazníkom poskytnúť komplexné riešenia analýzy procesov a profesionálne správy o analýze materiálov.
