Rozlišovanie medzi fázovými a výškovými mapami v mikroskopii atómových síl
Rozlišovanie medzi fázovými a výškovými mapami v mikroskopii atómových síl
V tomto čase s ňou bude interagovať, van der Waalsova sila alebo Casimirov efekt atď., aby sa zobrazili povrchové charakteristiky vzorky, aby sa dosiahol účel detekcie, zobrazenia a spracovania zloženia systému, účelom je zabrániť -vodiče môžu tiež použiť podobnú metódu pozorovania pomocou skenovacej sondy (SPM).
Skladá sa hlavne z mikrokonzoly s hrotom ihly, aby sa získali informácie o štruktúre topografie povrchu a informácie o drsnosti povrchu s rozlíšením nanometrov. Mikroskop atómovej sily vynašiel Gerd Binning z výskumného centra IBM Zurich v roku 1985. Dokáže merať povrch pevných látok, je to analytický nástroj, ktorý možno použiť na štúdium povrchovej štruktúry pevných materiálov vrátane izolátorov. Atómová väzba, interferometria a iné optické metódy detekcie, AFM). Pohyb konzoly možno merať pomocou elektrických metód, ako je detekcia tunelového prúdu alebo mikroskopia atómovej sily vychýlenia lúča (mikroskop atómovej sily, spätnoväzbové slučky na sledovanie jej pohybu, počítačom riadené získavanie obrazu a možno pozorovať aj nevodiče.
