Vlastnosti skenovacích sondových mikroskopov
Skenovacia sondová mikroskopia je tretím mikroskopom na pozorovanie štruktúry hmoty v atómovom meradle po iónovej mikroskopii poľa a transmisnej elektrónovej mikroskopii s vysokým rozlíšením. Ak si vezmeme ako príklad skenovací tunelový mikroskop (STM), jeho bočné rozlíšenie je 0.1~0.2nm a rozlíšenie vertikálnej hĺbky je 0.01nm. Takéto rozlíšenie môže jasne pozorovať jednotlivé atómy alebo molekuly distribuované na povrchu vzorky. Mikroskop skenovacej sondy môže zároveň vykonávať pozorovací výskum vo vzduchu, iných plynoch alebo kvapalnom prostredí.
Mikroskopy so skenovacou sondou majú charakteristiky atómového rozlíšenia, atómového transportu a nano-mikrospracovania. Avšak vzhľadom na rozdielne pracovné princípy rôznych skenovacích mikroskopov v detailoch sú informácie na povrchu vzorky odrážané výsledkami, ktoré získali, veľmi odlišné. Skenovacia tunelová mikroskopia meria informácie o rozložení elektrónových staníc na povrchu vzorky, ktorá má rozlíšenie na atómovej úrovni, ale stále nemôže získať skutočnú štruktúru vzorky. Atómový mikroskop zisťuje informácie o interakcii medzi atómami, takže možno získať informácie o usporiadaní rozloženia atómov na povrchu vzorky, teda o skutočnej štruktúre vzorky. Ale na druhej strane mikroskop atómovej sily nemôže merať informácie o elektronickom stave, ktoré možno porovnať s teóriou, takže tieto dva majú svoje výhody a nevýhody.
