Úvod do funkcií mikroskopu so skenovacou sondou
Rastrovací sondový mikroskop (Scanning Probe Microscope, SPM) je rastrovací tunelový mikroskop a v rastrovom tunelovom mikroskope na základe vývoja rôznych nových sondových mikroskopov (mikroskop s atómovou silou AFM, laserový silový mikroskop LFM, magnetický silový mikroskop MFM a tak ďalej) spoločne ide o medzinárodný vývoj povrchu analytických prístrojov v posledných rokoch, ide o komplexné využitie technológie optoelektroniky, laserovej technológie, technológie detekcie slabého signálu, presného mechanického dizajnu a spracovania, technológie automatického riadenia, technológie digitálneho spracovania signálu , aplikovaná optická technológia, počítačová vysokorýchlostná akvizícia a riadenie a technológia grafického spracovania s vysokým rozlíšením a ďalšie moderné vedecké a technologické výdobytky optickej, mechanickej a elektrickej integrácie high-tech produktov. Tento nový typ mikroskopického nástroja má zjavné výhody v porovnaní s rôznymi mikroskopmi a analytickými prístrojmi v minulosti:
1, SPM má veľmi vysoké rozlíšenie. Môže ľahko "vidieť" atóm, ktorý je ťažké dosiahnuť všeobecným mikroskopom a dokonca aj elektrónovým mikroskopom.
2, SPM je skutočný obraz povrchu vzorky s vysokým rozlíšením v reálnom čase, skutočne vidíte atóm. Na rozdiel od niektorých analytických prístrojov je povrchová štruktúra vzorky odvodená nepriamymi alebo výpočtovými metódami.
3, SPM sa používa v uvoľnenom prostredí. Elektrónový mikroskop a iné prístroje na požiadavky pracovného prostredia náročnejších, vzorka musí byť umiestnená vo vysokom vákuu, aby bolo možné otestovať. SPM môže pracovať vo vákuu, ale aj v atmosfére, nízkej teplote, izbovej teplote, vysokej teplote a dokonca aj v roztoku. Preto je SPM vhodný na vedecké experimenty v rôznych pracovných prostrediach.
