Rozsahy osvetlenia mikroskopu, ktoré sú k dispozícii
Okrem manuálnych modelov je mikroskop k dispozícii aj s novým radom motorizovaných univerzálnych iluminátorov. Biele LED iluminátor je vhodný na pozorovanie v jasnom poli. Používatelia si môžu vybrať 12V50W halogénovú žiarovku alebo biely LED svetelný zdroj podľa účelu pozorovania a práce.
Univerzálny epiiluminátor mikroskopu LV-UEP1, tento univerzálny epiiluminátor dokáže vykonávať aj pozorovanie vo svetlom poli, v tmavom poli, jednoduchom polarizovanom svetle a pozorovaní DIC. Iluminátor automaticky otvorí pole a apertúrne clony pri prepnutí z pozorovania vo svetlom poli na tmavé pole. Pri návrate do svetlého poľa iluminátor automaticky obnoví predchádzajúce podmienky poľa a clony.
Mikroskopický epiiluminátor LV-UEP2 na všeobecné použitie, okrem jasného poľa, tmavého poľa, jednoduchého polarizovaného svetla a DIC, môže tento iluminátor vykonávať aj epifluorescenčné pozorovanie. Prepojená štruktúra iluminátora s uzávierkou, zorným poľom a clonou automaticky nastaví optimálne svetelné podmienky. Táto funkcia minimalizuje zložitosť obsluhy meracieho mikroskopu a umožňuje užívateľovi sústrediť sa na pozorovanie.
Mikroskop LV-UEP1 FA Univerzálny epi-iluminátor Focus Assist, tento univerzálny Epi-Illuminator je vybavený voliteľným mechanizmom FA s pomocou dichroického hranolu, ktorý poskytuje lepšiu prehľadnosť pri meraní v osi Z.
Mikroskopová analýza softvéru na meranie metalografického mikroskopu
1) Softvér poskytuje horizontálne čiary, vertikálne čiary, diagonálne čiary, kruhy a ďalšie metódy merania uzlov na meranie veľkosti zrna. Dokáže automaticky určiť rýchle meranie a výpočet hraníc zŕn a môže zvoliť manuálne alebo automatické metódy merania. Namerané údaje je možné štatisticky analyzovať a potom je možné výstup exportovať do správy programu Excel.
2) Pomôžte používateľom analyzovať a merať mieru metalografickej sféroidizácie pomocou parametrov, ako je kruhovitosť, plocha a tvar
3) Plochu a percento plochy je možné vypočítať podľa kategórie zvoleného metalografického materiálu
4) Môže sa použiť aj na analýzu povrchovej pórovitosti poréznych materiálov alebo na určenie veľkosti a plochy pórov
5) Aby sa prekonalo obmedzenie objektívu s vysokým zväčšením a numerickej clony, malá vertikálna hĺbka ostrosti a vertikálny výškový rozdiel vytvárajú metalografický povrch
rozmazaný problém
