Aplikácia infračervených mikroskopov v mikrozariadeniach v elektronickom priemysle
S rozvojom nanotechnológie sa v oblasti polovodičovej technológie čoraz viac uplatňuje jej miniaturizačný prístup zhora-nadol. Technológiu IC sme zvykli nazývať „mikroelektronika“, pretože veľkosť tranzistorov je v rozsahu mikrometrov (10-6 metrov). Ale polovodičová technológia sa vyvíja veľmi rýchlo, každé dva roky napreduje o jednu generáciu a veľkosť sa zmenší na polovicu pôvodnej veľkosti, čo je slávny Moorov zákon. Asi pred 15 rokmi začali polovodiče vstupovať do submikrónovej éry, ktorá je menšia ako mikrometre, po ktorej nasledovala hlbšia submikrónová éra, oveľa menšia ako mikrometre. Do roku 2001 sa veľkosť tranzistorov dokonca zmenšila na menej ako 0,1 mikrometra, čo je menej ako 100 nanometrov. Preto sa v ére nanoelektroniky bude väčšina budúcich integrovaných obvodov vyrábať pomocou nanotechnológie.
Technické požiadavky:
V súčasnosti je hlavnou formou zlyhania elektronických zariadení tepelné zlyhanie. Podľa štatistík je 55 % porúch elektronických zariadení spôsobených teplotou prekračujúcou stanovenú hodnotu a poruchovosť elektronických zariadení exponenciálne rastie so zvyšujúcou sa teplotou. Všeobecne povedané, prevádzková spoľahlivosť elektronických komponentov je vysoko citlivá na teplotu, s 5% poklesom spoľahlivosti na každý 1 stupeň zvýšenia teploty zariadenia medzi 70-80 stupňami Celzia. Preto je potrebné rýchlo a spoľahlivo zistiť teplotu zariadenia. Vzhľadom na čoraz menšiu veľkosť polovodičových súčiastok boli kladené vyššie požiadavky na teplotné rozlíšenie a priestorové rozlíšenie detekčných zariadení.
