Nový multimeter na testovanie energetických vozidiel by mal pri meraní venovať pozornosť nasledujúcim bodom
(1) Nový multimeter na testovanie energetických vozidiel by mal mať dostatočne veľký vnútorný odpor, aspoň 10-krát väčší ako odpor testovaného obvodu, aby nespôsobil veľké chyby merania.
(2) Pero glukomera alebo sonda by mali mať protišmykové opatrenia. Pretože akýkoľvek okamžitý skrat ľahko poškodí integrovaný obvod. Na zabránenie skĺznutia pera je možné použiť nasledujúci spôsob: vyberte časť súpravy jadra ventilu bicykla na hrot pera a z hrotu pera vytiahnite približne 0,5 mm alebo tak, ktorá nielenže robí špičku pera v dobrom kontakte s testovaným bodom, ale tiež účinne zabraňuje skĺznutiu, aj keď sa dotkne susedných bodov, nebude skrat.
(3) Pri meraní kolíkové napätie nezodpovedá normálnej hodnote, malo by vychádzať z kolíkového napätia na normálnu prevádzku integrovaných obvodov nemá žiadny významný vplyv a iné kolíkové napätie zodpovedajúcich zmien v analýze, aby sa určil dobré a zlé integrované obvody.
(4) Napätie kolíkov IC bude ovplyvnené periférnymi komponentmi. Ak dôjde k úniku periférnych komponentov, skratu, prerušeniu obvodu alebo zmene hodnoty, alebo ak je periférny obvod pripojený k potenciometru s premenlivým odporom, potom sa posuvné rameno potenciometra nachádza v inej polohe, čím sa zmení napätie kolíka.
(5) Ak je napätie kolíkov integrovaného obvodu normálne, integrovaný obvod sa vo všeobecnosti považuje za normálny; ak je časť pinového napätia integrovaného obvodu abnormálna, malo by to byť od odchýlky od normálnej hodnoty zui veľké miesto na spustenie, skontrolujte periférne komponenty s poruchou alebo bez poruchy, ak nedôjde k poruche, potom je pravdepodobný integrovaný obvod byť poškodený.
(6) V prípade zariadení s dynamickým príjmom, ako sú televízne prijímače, je pri absencii signálu rozdielne napätie na kolíkoch integrovaného obvodu. Ak zistíte, že namiesto veľkých zmien by sa nemalo meniť napätie pinu, veľkosť signálu a nastaviteľné súčiastky s rôznymi polohami a zmenami namiesto zmien, môžete určiť poškodenie integrovaného obvodu.
(7) pre rôzne prevádzkové režimy zariadenia, v rôznych prevádzkových režimoch je aj napätie pinov integrovaného obvodu odlišné.
