Aké sú hlavné charakteristiky metalografického mikroskopu
1. Metalografický mikroskop je špeciálne navrhnutý pre všetky kontrolné a meracie úlohy pri kontrole kovov a priemyselných materiálov.
2. Predovšetkým poskytovanie konfigurácie pozorovania odrazu na splnenie rutinnej detekcie a analýzy metalografických vzoriek.
3. Celková optická dráha podporuje priemer zorného poľa 20 mm.
4. Štvordierkový otočný tanier s manuálnym objektívom.
5. Zabezpečte halogénové osvetlenie so vstavanou 35W halogénovou žiarovkou alebo externým 100W transformátorom.
6. Môže poskytnúť metódy pozorovania v jasnom poli a polarizovanom svetle.
7. Možno spárovať s objektívmi Leica rôznych násobkov. Môže byť vybavený pevným vzorkovým stolíkom alebo trojdoskovým mobilným vzorkovým stolíkom. Metalografický mikroskop môže byť vybavený kamerami, digitálnymi kamerami a inými zariadeniami na získavanie obrazu na dosiahnutie ukladania obrazu a môže byť použitý v spojení s analytickým softvérom na analýzu obrazu.
Metalografický mikroskop s plne automatickým diferenciálnym interferenčným fázovým kontrastom (DIC) a 1,25x zrkadlom s plným poľom dokáže detekovať aj malé detaily. Obraz s vysokým rozlíšením s ultra hlbokým poľom umožňuje jasný pohľad na malé detaily, čím spĺňa požiadavky na vysokú kvalitu obrazu na detekciu.
Skenovacia elektrónová mikroskopia sa ovláda rovnako jednoducho ako digitálny fotoaparát, zachováva vysoké rozlíšenie a hĺbku ostrosti a zároveň jednoducho získava obrázky s veľkým zväčšením. Vďaka výkonným elektronickým optickým vlastnostiam skenovacej elektrónovej mikroskopie pomáha urýchliť výskum v biologických vedách a analýzu defektov spracovaných materiálov.
Toto zariadenie sa ľahko ovláda v základných aspektoch, ako je automatické zaostrovanie, automatický kontrastný pomer a automatické ovládanie jasu, bez potreby špeciálnych príprav na spracovanie vzoriek, ako je poťahovanie alebo sušenie. Má dva prevádzkové režimy vysokého vákua a nízkeho vákua, ako aj tri nastavenia akceleračného napätia, vhodné pre rôzne oblasti použitia. Všetky tieto môžu byť naprogramované v prednastavených súboroch riešení, zachovávajúc vysoké rozlíšenie a veľkú hĺbku ostrosti a zároveň jednoducho získavať obrázky s veľkým zväčšením. Má výkonný elektronický optický výkon skenovacej elektrónovej mikroskopie.
Rastrovací elektrónový mikroskop vyžaruje elektrónový lúč (s priemerom asi 50 um) z elektrónového dela, ktorý je pôsobením urýchľujúceho napätia zbiehaný systémom magnetických šošoviek za vzniku elektrónového lúča s priemerom 5nm. Zaostruje sa na povrch vzorky a pôsobením vychyľovacej cievky medzi druhou zaostrovacou šošovkou a šošovkou objektívu sa elektrónový lúč podrobuje mriežkovému skenovaniu vzorky. Elektróny interagujú so vzorkou a vytvárajú signálne elektróny, ktoré sú zhromaždené detektorom a prevedené na fotóny. Potom sú zosilnené zosilňovačom elektrického signálu a zobrazené na displeji.
Štruktúra rastrovacieho elektrónového mikroskopu zahŕňa elektrónový optický systém, zber signálu, zobrazovací a záznamový systém a vákuový systém. Táto časť pozostáva hlavne z elektrónovej pištole, elektromagnetickej šošovky, snímacej cievky a komory na vzorky. Elektrónové delo poskytuje stabilný zdroj elektrónov, ktorý vytvára elektrónový lúč. Vo všeobecnosti sa používa elektrónové delo s volfrámovou katódou a volfrámový drôt s priemerom asi 0,1 mm je ohnutý do tvaru vlásenky, čím sa vytvorí hrot v tvare V s polomerom asi 100 μm. Pri prechode prúdu vlákna sa vlákno zahrieva a keď dosiahne prevádzkovú teplotu, vyžaruje elektróny. Medzi katódou a anódou sa aplikuje vysoké napätie a tieto elektróny sa zrýchľujú smerom k anóde a vytvárajú elektrónový lúč. Pôsobením vysokonapäťového elektrického poľa sa elektrónový lúč urýchľuje cez otvor osi anódy a vstupuje do elektromagnetického poľa.
