Zdieľanie technológie SEM pre rastrovaciu elektrónovú mikroskopiu
Princíp SEM analýzy pomocou skenovacej elektrónovej mikroskopie: Použitie elektronickej technológie na detekciu sekundárnych elektrónov, spätne rozptýlených elektrónov, absorbovaných elektrónov, röntgenových lúčov atď., ktoré vznikajú počas interakcie medzi vysokoenergetickými elektrónovými lúčmi a vzorkami, a ich zosilnenie do obrazov
Metódy reprezentácie spektrogramov zahŕňajú obrazy so spätným rozptylom, obrazy sekundárnych elektrónov, obrazy absorpčného prúdu, čiarové a povrchové rozloženie prvkov atď.
Poskytnuté informácie: morfológia lomu, mikroštruktúra povrchu, mikroštruktúra vo vnútri filmu, analýza mikrozónových prvkov a kvantitatívna analýza prvkov atď.
Rozsah použitia skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM):
1. Analýza morfológie povrchu materiálu a pozorovanie morfológie mikrooblastí
2. Analýza rôznych tvarov materiálov, veľkostí, povrchov, prierezov a distribúcie veľkosti častíc
3. Pozorovanie morfológie povrchu, analýza drsnosti a hrúbky rôznych vzoriek tenkých vrstiev
Projekt testovania SEM
1. Analýza morfológie povrchu materiálu a pozorovanie morfológie mikrooblastí
2. Analýza rôznych tvarov materiálov, veľkostí, povrchov, prierezov a distribúcie veľkosti častíc
3. Pozorovanie morfológie povrchu, analýza drsnosti a hrúbky rôznych vzoriek tenkých vrstiev
Príprava vzoriek z rastrovacej elektrónovej mikroskopie je jednoduchšia ako príprava vzoriek z transmisnej elektrónovej mikroskopie a nevyžaduje si vkladanie ani rezy.
Vzorové požiadavky:
Vzorka musí byť pevná; Spĺňajte požiadavky na netoxické, nerádioaktívne, neznečisťujúce, nemagnetické, bezvodé a stabilné zloženie.
Princíp prípravy:
Vzorky s povrchovou kontamináciou by mali byť riadne očistené a následne vysušené bez poškodenia povrchovej štruktúry vzorky;
Novo zlomené zlomeniny alebo prierezy vo všeobecnosti nevyžadujú ošetrenie, aby nedošlo k poškodeniu zlomeniny alebo povrchu
Štrukturálny stav;
Povrch alebo lom vzorky, ktorá sa má erodovať, by sa mal očistiť a vysušiť;
Predbežná demagnetizácia magnetických vzoriek;
Veľkosť vzorky by mala byť vhodná pre veľkosť držiaka vzorky špecifického pre prístroj.
Bežné metódy:
hromadná vzorka
Hranatý vodivý materiál: Nie je potrebná príprava vzorky, použite vodivé lepidlo na pripevnenie vzorky k držiaku vzorky na priame pozorovanie.
Blokové nevodivé (alebo slabo vodivé) materiály: Najprv použite metódu poťahovania na úpravu vzorky, aby ste predišli hromadeniu náboja a ovplyvnili kvalitu obrazu.
