Faktory ovplyvňujúce meranie hrúbky povlaku

Nov 09, 2025

Zanechajte správu

Faktory ovplyvňujúce meranie hrúbky povlaku

 

S prudkým rozvojom spoločnosti smerujú k diverzifikácii a rozširovaniu aj jej zákazníci. Zároveň používatelia, najmä tí, ktorí práve prišli do kontaktu s naším prístrojom, sa pri používaní prístroja vždy stretávajú s rôznymi problémami. Tu uvedieme krátke vysvetlenie pomocou merača hrúbky povlaku ako príkladu.
Prečo prístroje niekedy merajú nepresne?

 

Toto je dosť všeobecná otázka. Dôvody nepresnosti prístroja sú rôzne. Pre jeden hrúbkomer má totálna stanica hlavne nasledujúce dôvody nepresnosti merania.

 

(1) Rušenie zo silných magnetických polí. Raz sme vykonali jednoduchý experiment, pri ktorom boli merania vážne narušené, keď prístroj pracoval v blízkosti elektromagnetického poľa okolo 10 000 V. Ak je veľmi blízko elektromagnetického poľa, stále existuje možnosť zrútenia.

 

(2) Ľudské faktory. Táto situácia sa často stáva novým používateľom. Dôvod, prečo môže merač hrúbky povlaku merať mikrometre, je ten, že dokáže zachytiť malé zmeny magnetického toku a previesť ich na digitálne signály. Ak používateľ počas procesu merania nie je oboznámený s prístrojom, sonda sa môže odchýliť od meraného telesa, čo spôsobí zmeny magnetického toku a výsledkom budú chybné merania. Preto sa odporúča, aby si používatelia pred prvým použitím tohto prístroja osvojili metódu merania. Umiestnenie sondy má významný vplyv na meranie a totálna stanica by mala pri meraní držať sondu kolmo na povrch vzorky. A čas umiestnenia sondy by nemal byť príliš dlhý, aby sa zabránilo interferencii s magnetickým poľom samotného substrátu.

 

(3) Počas kalibrácie systému nebol vybraný žiadny vhodný substrát. Malá rovina substrátu je 7 mm a malá hrúbka je 0,2 mm. Merania pod týmto kritickým stavom sú nespoľahlivé.

 

(4) Vplyv pripojených látok. Tento prístroj je citlivý na prichytené látky, ktoré bránia sonde v tesnom kontakte s povrchom krycej vrstvy. Preto je potrebné pripevniť látky na zabezpečenie priameho kontaktu medzi sondou a povrchom krycej vrstvy. Pri vykonávaní kalibrácie systému musí byť povrch vybraného substrátu tiež odkrytý a hladký.

 

(5) Prístroj má poruchu. V tejto chvíli môžete komunikovať s technickým personálom alebo sa vrátiť do továrne na opravu.

 

3 EMF meter

 

 

Zaslať požiadavku