Klasifikácia laserových snímačov vzdialenosti
Technológia laserového snímača vzdialenosti je rozdelená na metódu merania absolútnej vzdialenosti a metódu merania mikroposunu podľa rozsahu merania. Metóda absolútnej vzdialenosti, rozdelená podľa metódy merania, zahŕňa hlavne pulzné laserové meranie a fázové laserové meranie a meranie mikroposunu zahŕňa hlavne triangulačné laserové meranie a interferometrické laserové meranie.
Princíp pulzného laserového snímača vzdialenosti je: pulzný laser vyžaruje pulzný laser s veľmi krátkym trvaním a po prejdení meranej vzdialenosti zasiahne meraný cieľ a časť energie sa odrazí späť. . Ozvena sa vráti do diaľkomeru a je prijatá fotodetektorom. Podľa intervalu medzi signálom hlavnej vlny a signálom ozveny, to znamená, keď sa laserový impulz pohybuje tam a späť od lasera k cieľu, ktorý sa má merať, možno vypočítať vzdialenosť k cieľu, ktorý sa má merať.
Princíp snímača rozsahu fázového lasera je: modulovať intenzitu svetla emitovaného laserového svetla a využívať fázovú zmenu modulovaného signálu pri šírení laserového priestoru. Podľa vlnovej dĺžky modulovanej vlny sa vypočíta vzdialenosť reprezentovaná fázovým oneskorením. To znamená, že sa používa nepriama metóda merania fázového oneskorenia namiesto priameho merania času potrebného na spiatočnú cestu lasera na uskutočnenie merania vzdialenosti. Presnosť tejto metódy môže dosiahnuť milimetrovú úroveň.
Triangulačný laserový snímač vzdialenosti je svetlo vyžarované laserom, ktoré po zaostrení zbiehavou šošovkou dopadá na povrch meraného objektu a prijímacia šošovka prijíma rozptýlené svetlo z dopadajúceho svetelného bodu a zobrazuje ho na citlivý povrch fotoelektrického detektora polohy . Keď sa objekt pohybuje, relatívna vzdialenosť presunutá objektom sa vypočíta ako posunutie svetelného bodu v rovine zobrazenia. Rozlíšenie triangulačného lasera je veľmi vysoké a môže dosiahnuť rádovo mikróny.
Interferometrický laserový snímač vzdialenosti pohybuje meraným cieľom a meria koherenciu a po spočítaní dokončí meranie prírastku vzdialenosti. Preto je citlivosť interferometrického merania veľmi vysoká a môže dosiahnuť úroveň nanometrov.
