Prečo je kvalita zobrazenia laserovej konfokálnej mikroskopie lepšia?
Princíp laserovej konfokálnej mikroskopie spočíva v tom, že svetelný lúč vyžarovaný svetelným zdrojom LED prechádza cez viacotvorový disk a šošovku objektívu a je zaostrený na povrch vzorky. Potom sa lúč odrazí späť do meracieho systému cez povrch vzorky. Pri opätovnom prechode cez dierky na MPD odrazené svetlo zachová iba zaostrené svetelné body. Nakoniec sa lúč svetla odrazí oddeľovačom a zobrazí sa na kamere.
Prečo je kvalita zobrazenia laserovej konfokálnej mikroskopie lepšia?
1. Laserový konfokálny mikroskop využíva technológiu laserového skenovania. V porovnaní so širokospektrálnym zdrojom svetla tradičných mikroskopov dokáže technológia laserového skenovania presne lokalizovať a zamerať sa na špecifické oblasti vzorky, čím sa zlepší rozlíšenie a presnosť zobrazenia. Medzitým môže technológia laserového skenovania eliminovať rozptyl a signály pozadia vo vzorke, čím sa zlepší kontrast zobrazenia. Medzitým monochromatickosť lasera robí zobrazovanie jasnejším.
2. Laserová konfokálna mikroskopia má väčšiu optickú apertúru (schopnosť mikroskopu prijímať svetlo vyžarované vzorkou) a objektív s vysokou numerickou apertúrou (zväčšenie šošovky), vďaka čomu je zobrazenie jasnejšie a detailnejšie.
3. Laserový konfokálny mikroskop používa ako detekčný prvok vysoko citlivú fotonásobič, ktorý môže vykazovať vysokú citlivosť na slabé fluorescenčné signály. Môže tiež eliminovať šum pozadia znížením rozsahu budenia a použitím optického rezania** Laserový konfokálny mikroskop vybavený vysoko citlivými fotodiódovými detektormi dokáže rýchlo a presne detekovať svetelné signály a previesť ich na elektrické signály.
Na rozdiel od tradičného optického pozorovania dokážu fotodiódové detektory detekovať jednotlivé fotóny, vďaka čomu je zobrazovanie citlivejšie a presnejšie. Tento detektor s vysokou citlivosťou dokáže získať jasné obrázky aj pri nízkej intenzite osvetlenia.
Laserový konfokálny mikroskop VT6000 je založený na konjugovanom konfokálnom princípe bodového svetelného zdroja s dierkou s pozdĺžnym rozlíšením na úrovni nanometrov. Profesionálny analytický softvér v spojení s vysokorýchlostným skenovacím modulom má viacoblastné a automatické meracie funkcie, ktoré umožňujú rýchle a automatizované meranie. Poskytuje tiež sériu parametrov veľkosti obrysu, ako je výška, šírka a uhol na charakterizáciu kvality povrchu.
